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VIEW Precis 200
产品详情 全新的Precis 200是基于Micro-Metric的Innova晶圆量测系统开发而来，采用了VMM 公司最先进的设计和技术。, 新款Precis 包含了很多可配置选项，使设备更
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2021-06-16 |
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VIEW Pinnacle 250
特征：-测量范围：250 x 150 x 100 mm- 25公斤承载力-亚微米的光栅尺分辨率- X-Y无阻力线性马达驱动，平台速度400 mm/秒- Z轴DC伺服回转马达驱动，100 mm/秒-误
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VIEW MicroLine 1000自动化关键尺寸测量系统
■测量范围(XYZ)：100x 100x 175 mm■测量范围(XYZ)：200x 200x 175 mm■测量范围(XYZ)：300x 300x 145 mm
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2021-06-16 |
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VIEW MicroLine 300
MicroLine-300是一款桌上型半自动CD测量系统。主要技术参数：◆测量范围(XYZ)：标准：200×200×25mm；可选：300x300x25◆视场内测量精度：10nm(100X 镜头)
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VIEW Benchmark300 影像测量仪
产品特征：Benchmark 300标准配备:?高分辨率单放大率光学系统?2.5倍显微镜物镜?0.1um光栅尺?可编程环形灯(PRL)?多功能手动控制器?基于pc的系统控制器。?V
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Summit 450/600/800
产品详情 Summit450/600/800 参数介绍：XY 精度: E2=(2.0+4L/1000)um(E2=(1.5+5L/1000)um 高分辨率刻度尺)Z 线性精度: E1=(1.8+5L/1000)um(E1=(1.4+5L/1000)um T
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VIEW BenchMark 250
BenchMark 250 主要技术参数XY 精度:E2=(1.8+6L/1000)微米(E2=(1.0+6L/1000)微米 需高分辨率光栅尺)Z精度:E1=(2.0+5L/1000)微米(E1=(1.2+5L/1000)微米 TTL激光和
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VIEW BenchMark 450
BenchMark 450 主要技术参数XY 精度:E2=(2.5+5L/1000)微米 Z 精度:E1=(2.0+8L/1000)微米 （ 带TTL激光和可选5倍镜头）英制单位公制单位测量范围18" X18"X6"450&#
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Pinnacle+Plus
特征：X,Y,Z 行程 (毫米)：250 x 150 x 50X,Y,Z光栅尺分辨率：XY - 0.05μm,零膨胀材料，Z - 0.01μm,零膨胀材料平台驱动系统：无摩擦高速线性马达驱动XY,直流伺
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2021-06-16 |
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VIEW Benchmark 624
VIEW Benchmark 624是QVI旗下一款大容量式全自动三轴尺寸测量系统.VIEW Benchmark 624的移动桥式结构和光学可使被测组件始终保持静止状态X,Y,Z行程(mm)：624 x 6
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2021-06-16 |
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VIEW Benchmark XLT
X,Y,Z行程(mm)900 x 1500 x 1501250 x 1500 x 1501500 x 1500 x 1501250 x 2000 x 1501500 x 2000 x 150Y-axis - 2000 mmZ-axis – 200 mmX,Y,Z 光栅尺分辨率:0.
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2021-06-16 |
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